ジャパンコーヨン

会社紹介

CEOメッセージ

会社概要

確信保有技術

アクセス方法

ジャパンコーヨンは最先端の3D測定検査装置を基にして最先端技術の業界に革新的なソリューションを継続的に提供していきます。

核心保有技術

ジャパンコーヨンは3次元精密測定検査装置の分野で下記のような世界最高の技術力を保有しています。

Shadow-Free Moire (SFM) 3次元測定技術

image測定物体の上にStructured Lightを照らし干渉現象を起こす光学Probe設計技術と干渉現象により形成されたMoire波形を分析して
3次元の情報を取り出し映像処理の Algorithm 技術

image3次元測定装置で共通の問題点であるミラー効果とシャドー効果による測定精密度の低下及び仮性不良の問題を解決したコーヨンだけの
SFM特許技術

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WSI (Wafer Surface Inspection) 技術

image測定物体から反射される光の干渉を利用して高さ繰り返し情報を取り出すことができる白色光の干渉系Probe設計と干渉信号を分析して
3次元形状を復元させる映像処理Algorithm技術

imageRobustに測定できる差別化になる Auto-focusing及び Anti-vibration技術

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4 Way Moire 3次元測定技術

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imageコーヨンだけの多重Projectの技術を通じてSolder BumpとBallのHeight/Volume/Co-planarityなど測定ができる技術

imageBall形状の測定において問題となるSpecula Problemを解決して
測定精密度低下及び仮性不良の問題を解決したコーヨンだけのShadow-Free Moire特許技術

Stereo Moire 3次元測定技術

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image制限された高さに対して高精度の3次元測定が可能な既存のMoire測定方法の限界を克服した方法で

imagePCB基板の上に実装された部品レベルの高さ
まで3次元測定が可能なStereo Moire特許技術

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