LINE UP製品情報

ホーム    製品情報    外観検査装置（AOI）
PDFカタログ
ダウンロード

外観検査装置(AOI)AOI Technology

“測定”を超えた完全3DAOI

世界最高レベルの
コーヨンテクノロジーの技術力
  • ・影と乱反射問題を解決
  • ・8方向プロジェクションを利用して影の問題を解決
  • ・高さのある測定物の検査（２ｍｍ）
  • ・高い測定精度を維持した25mmの部品検査
  • ・デュアルレーン搬送対応(オプション)

AOI Technology

測定値ベースでの3D外観検査装置
測定値ベースでの3D外観検査装置

世界最高クラスの測定精度、高い信頼性により、実装工程の3D検査が可能です。
部品及びはんだ接合部の形状を抽出して、あらゆる不良を検出し、従来の2DAOIの問題を克服しました。

従来の方式
従来の方式画像比較による検査
コーヨンテクノロジーのAOI
コーヨンテクノロジーのAOI測定値を利用したIPC610基準の欠陥検査
直観的な不良検出

従来の2DAOIでは、ユーザ依存のプログラムにて不良判定が行われていましたが、コーヨンテクノロジーのAOIでは、測定値ベースでの直観的な検査条件の設定によってユーザによるばらつきのないプログラムを提供し、一貫した検査結果を実現します。

製品スペック

zenith

装置特徴

  • 8方向のプロジェクション照明で影や乱反射問題を解決
  • 独自技術による完全3D検査対応
  • IPC規格に基づいたはんだフィレット検査
  • 測定値ベースのプロセス最適化ソリューション

検査項目

欠品、極性、表裏反転、部品XYθズレ、リード位置ズレ、部品浮き、リード浮き、傾き、OCV/OCR、ブリッジ、はんだフィレット、チップ立ち、チップ横立ち、部品寸法、誤実装等

zenith-uhs

装置特徴

  • 8方向のプロジェクション照明で影や乱反射問題を解決
  • 独自技術による完全3D検査対応
  • IPC規格に基づいたはんだフィレット検査
  • 基板全面異物検査
  • 測定値ベースのプロセス最適化ソリューション
  • AIを活用した自動プログラミング

検査項目

欠品、極性、表裏反転、部品XYθズレ、リード位置ズレ、部品浮き、リード浮き、傾き、OCV/OCR、ブリッジ、はんだフィレット、チップ立ち、チップ横立ち、部品寸法、誤実装等

zenith-alpha

装置特徴

  • 独自技術による完全3D検査対応
  • AIを活用した自動プログラミング
  • 背の高い部品の測定可能(Zenith Alpha HS+)
  • ベストプライスAOIモデル

検査項目

欠品、極性、表裏反転、部品XYθズレ、リード位置ズレ、部品浮き、リード浮き、傾き、OCV/OCR、ブリッジ、はんだフィレット、チップ立ち、チップ横立ち、部品寸法、誤実装等

zenith-2

装置特徴

  • サイドカメラを搭載した独自技術による完全3D検査
  • IPC規格に基づいたはんだフィレット検査
  • 基板全面異物検査
  • 測定値ベースのプロセス最適化ソリューション
  • AIを活用した自動プログラミング
  • 背の高い部品の測定

検査項目

欠品、極性、表裏反転、部品XYθズレ、リード位置ズレ、部品浮き、リード浮き、傾き、OCV/OCR、ブリッジ、はんだフィレット、チップ立ち、チップ横立ち、部品寸法、誤実装等

zenith-f

装置特徴

  • 独自技術による完全3D検査対応
  • AIを活用した自動プログラミング
  • FPCBへの最適なソリューションを提供

検査項目

欠品、極性、表裏反転、部品XYθズレ、リード位置ズレ、部品浮き、リード浮き、傾き、OCV/OCR、ブリッジ、はんだフィレット、チップ立ち、チップ横立ち、部品寸法、誤実装等

zenith-lite

装置特徴

  • 4方向プロジェクション照明による影の影響を削減
  • 独自技術による完全3D検査対応
  • 測定値ベースのプロセス最適化ソリューション
  • ハイコストパフォーマンスモデル

検査項目

欠品、極性、表裏反転、部品XYθズレ、リード位置ズレ、部品浮き、リード浮き、傾き、OCV/OCR、ブリッジ、はんだフィレット、チップ立ち、チップ横立ち、部品寸法、誤実装等

PDFカタログ
ダウンロード