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正確性高度なICパッケージの完全3D測定独自のモアレ技術によるプリントバンプの正確な測定
簡単なプログラミングファインチューニングやベースリファレンスのティーチングが不要な簡単な検査設定
幅広い検査の適用範囲微小バンプ検査にも対応可能な独自の3D形状測定技術 測定対象:体積、面積、高さ、直径 など 不良タイプ別検査項目:はんだ不足、はんだ過多、未はんだ、ブリッジ、XYズレ、形状異常